Производитель: PANalytical (Нидерланды)
Рентгеновский дифрактометр Panalytical X ’ PERT PRO MRD Extended предназначен для исследования тонких структурных особенностей монокристаллов и гетероэпитаксиальных пленок толщиной от нескольких нанометров до нескольких микрон. Области применения:дифрактометрия высокого разрешения
- дифрактометрия высокого разрешения
- анализ текстуры и напряжений
- анализ кривых качания, оценка совершенства упорядоченных структур
- построение карт обратного пространства эпитаксиальных пленок и слоев
- рефлектометрия
- наноисследования, малоугловое рассеяние рентгеновских лучей SAXS (Small angle X-ray scattering)
- анализ тонких и очень тонких нанопленок
- фазовый анализ с высочайшей скоростью и точностью, метод Ритвельда
- дифракция в плоскости (in-plane дифракция)
- анализ монокристаллов и др.